Study of statistical variability in nanoscale transistors introduced by LER, RDF and MGG

  1. Indalecio, G.
  2. Garcia-Loureiro, A.
  3. Aldegunde, M.
  4. Kalna, K.
Actas:
Proceedings of the 2013 Spanish Conference on Electron Devices, CDE 2013

ISBN: 9781467346689

Ano de publicación: 2013

Páxinas: 95-98

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1109/CDE.2013.6481351 DIALNET GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus