Study of statistical variability in nanoscale transistors introduced by LER, RDF and MGG

  1. Indalecio, G.
  2. Garcia-Loureiro, A.
  3. Aldegunde, M.
  4. Kalna, K.
Actas:
Proceedings of the 2013 Spanish Conference on Electron Devices, CDE 2013

ISBN: 9781467346689

Año de publicación: 2013

Páginas: 95-98

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/CDE.2013.6481351 DIALNET GOOGLE SCHOLAR
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