Simulation of statistical variability in nano-CMOS transistors using drift-diffusion, Monte Carlo and non-equilibrium Green's function techniques
- Asenov, A.
- Brown, A.R.
- Roy, G.
- Cheng, B.
- Alexander, C.
- Riddet, C.
- Kovac, U.
- Martinez, A.
- Seoane, N.
- Roy, S.
ISSN: 1572-8137, 1569-8025
Ano de publicación: 2009
Volume: 8
Número: 3-4
Páxinas: 349-373
Tipo: Artigo