Simulation of statistical variability in nano-CMOS transistors using drift-diffusion, Monte Carlo and non-equilibrium Green's function techniques

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Zeitschrift:
Journal of Computational Electronics

ISSN: 1572-8137 1569-8025

Datum der Publikation: 2009

Ausgabe: 8

Nummer: 3-4

Seiten: 349-373

Art: Artikel

DOI: 10.1007/S10825-009-0292-0 GOOGLE SCHOLAR