Simulation of statistical variability in nano-CMOS transistors using drift-diffusion, Monte Carlo and non-equilibrium Green's function techniques

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Revista:
Journal of Computational Electronics

ISSN: 1572-8137 1569-8025

Año de publicación: 2009

Volumen: 8

Número: 3-4

Páginas: 349-373

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/S10825-009-0292-0 GOOGLE SCHOLAR