The effect of interface roughness scattering on Si SOI FinFET with Ando's and extended Prange and Nee model

  1. Nagy, D.
  2. Elmessary, M.A.
  3. Aldegunde, M.
  4. Kalna, K.
Actas:
Journal of Physics: Conference Series

ISSN: 1742-6596,  1742-6588

Año de publicación: 2015

Volumen: 647

Número: 1

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1088/1742-6596/647/1/012065 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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