The effect of interface roughness scattering on Si SOI FinFET with Ando's and extended Prange and Nee model

  1. Nagy, D.
  2. Elmessary, M.A.
  3. Aldegunde, M.
  4. Kalna, K.
Konferenzberichte:
Journal of Physics: Conference Series

ISSN: 1742-6596,  1742-6588

Datum der Publikation: 2015

Ausgabe: 647

Nummer: 1

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1088/1742-6596/647/1/012065 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor
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