Direct Imaging of Current-Induced Antiferromagnetic Switching Revealing a Pure Thermomagnetoelastic Switching Mechanism in NiO

  1. Meer, H.
  2. Schreiber, F.
  3. Schmitt, C.
  4. Ramos, R.
  5. Saitoh, E.
  6. Gomonay, O.
  7. Sinova, J.
  8. Baldrati, L.
  9. Kläui, M.
Revista:
Nano Letters

ISSN: 1530-6992,  1530-6984

Ano de publicación: 2021

Volume: 21

Número: 1

Páxinas: 114-119

Tipo: Artigo

DOI: 10.1021/ACS.NANOLETT.0C03367 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus