Direct Imaging of Current-Induced Antiferromagnetic Switching Revealing a Pure Thermomagnetoelastic Switching Mechanism in NiO

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Zeitschrift:
Nano Letters

ISSN: 1530-6992 1530-6984

Datum der Publikation: 2021

Ausgabe: 21

Nummer: 1

Seiten: 114-119

Art: Artikel

DOI: 10.1021/ACS.NANOLETT.0C03367 GOOGLE SCHOLAR