Direct Imaging of Current-Induced Antiferromagnetic Switching Revealing a Pure Thermomagnetoelastic Switching Mechanism in NiO

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Revista:
Nano Letters

ISSN: 1530-6992,  1530-6984

Año de publicación: 2021

Volumen: 21

Número: 1

Páginas: 114-119

Tipo: Artículo

DOI: 10.1021/ACS.NANOLETT.0C03367 GOOGLE SCHOLAR
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