Antireflection self-reference method based on ultrathin metallic nanofilms for improving terahertz reflection spectroscopy

  1. Lai, W.
  2. Cao, H.
  3. Yang, J.
  4. Deng, G.
  5. Yin, Z.
  6. Zhang, Q.
  7. Pelaz, B.
  8. Del Pino, P.
Revista:
Optics Express

ISSN: 1094-4087

Ano de publicación: 2018

Volume: 26

Número: 15

Páxinas: 19470-19478

Tipo: Artigo

DOI: 10.1364/OE.26.019470 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus