Antireflection self-reference method based on ultrathin metallic nanofilms for improving terahertz reflection spectroscopy

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Revista:
Optics Express

ISSN: 1094-4087

Año de publicación: 2018

Volumen: 26

Número: 15

Páginas: 19470-19478

Tipo: Artículo

DOI: 10.1364/OE.26.019470 GOOGLE SCHOLAR
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