Spectrally resolved white light interferometry to measure material dispersion over a wide spectral band in a single acquisition

  1. Arosa, Y.
  2. Lago, E.L.
  3. Varela, L.M.
  4. De La Fuente, R.
Revista:
Optics Express

ISSN: 1094-4087

Ano de publicación: 2016

Volume: 24

Número: 15

Páxinas: 17303-17312

Tipo: Artigo

DOI: 10.1364/OE.24.017303 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor
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