MC/DD study of metal grain induced current variability in a nanoscale InGaAs FinFET
- Seoane, N.
- Aldegunde, M.
- Kalna, K.
- Garcia-Loureiro, A.J.
Actas:
International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, SISPAD
ISBN: 9781479952885
Ano de publicación: 2014
Páxinas: 253-256
Tipo: Achega congreso