Impact of intrinsic parameter fluctuations on the performance of In 0.75Ga0.25As implant free MOSFETs

  1. Seoane, N.
  2. Garcia-Loureiro, A.
  3. Aldegunde, M.
  4. Kalna, K.
  5. Asenov, A.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242 1361-6641

Año de publicación: 2009

Volumen: 24

Número: 5

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0268-1242/24/5/055011 GOOGLE SCHOLAR