Impact of intrinsic parameter fluctuations on the performance of In 0.75Ga0.25As implant free MOSFETs

  1. Seoane, N.
  2. Garcia-Loureiro, A.
  3. Aldegunde, M.
  4. Kalna, K.
  5. Asenov, A.
Zeitschrift:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242,  1361-6641

Datum der Publikation: 2009

Ausgabe: 24

Nummer: 5

Art: Artikel

DOI: 10.1088/0268-1242/24/5/055011 GOOGLE SCHOLAR
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