Statistical study of the effect of interface charge fluctuations in HEMTs using a 3D simulator
- Seoane, N.
- García-Loureiro, A.J.
- Kalna, K.
- Asenov, A.
ISSN: 1569-8025, 1572-8137
Año de publicación: 2006
Volumen: 5
Número: 4
Páginas: 385-388
Tipo: Artículo