Proyecto de investigación
PGIDIT07PXI206020PC
Efect of intrinsic fluctuations induced by high-k gate dielectrics on nanomosfets.
date_range
Duración del 01 de enero de 2007 al 31 de octubre de 2007
(10 meses)
Con carácter Privado. Se ha otorgado en régimen de Concurrencia competitiva.
Investigadores/as
ANTONIO JESUS
GARCIA LOUREIRO
Responsable