Forschungsprojekt
PGIDIT07PXI206020PC
Efect of intrinsic fluctuations induced by high-k gate dielectrics on nanomosfets.
date_range
Dauer von 01 von Januar von 2007 bis 31 von Oktober von 2007
(10 Monate)
Mit dem Zeichen Privat. Es wurde auf Konkurrenzfähiger Wettbewerb-Basis gewährt.
Forscher/innen
ANTONIO JESUS
GARCIA LOUREIRO
Verantwortlich