An accurate machine learning model to study the impact of realistic metal grain granularity on Nanosheet FETs

  1. Fernandez, J.G.
  2. Seoane, N.
  3. Comesaña, E.
  4. Pichel, J.C.
  5. Garcia-Loureiro, A.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Ano de publicación: 2023

Volume: 207

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/J.SSE.2023.108710 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor HANDLE: https://hdl.handle.net/10347/31273
Minerva. Repositorio Institucional de la Universidad de Santiago de Compostela: lock_openAcceso aberto Handle
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