Advanced simulation of statistical variability and reliability in nano CMOS transistors
- Asenov, A.
- Roy, S.
- Brown, R. A.
- Roy, G.
- Alexander, C.
- Riddet, C.
- Millar, C.
- Cheng, B.
- Martinez, A.
- Seoane, N.
- Reid, D.
- Bukhori, M. F.
- Wang, X.
- Kovac, U.
ISBN: 978-1-4244-2377-4
Ano de publicación: 2008
Páxinas: 421-421
Congreso: IEEE International Electron Devices Meeting
Tipo: Achega congreso