Advanced simulation of statistical variability and reliability in nano CMOS transistors

  1. Asenov, A.
  2. Roy, S.
  3. Brown, R. A.
  4. Roy, G.
  5. Alexander, C.
  6. Riddet, C.
  7. Millar, C.
  8. Cheng, B.
  9. Martinez, A.
  10. Seoane, N.
  11. Reid, D.
  12. Bukhori, M. F.
  13. Wang, X.
  14. Kovac, U.
Colección de libros:
IEEE INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING 2008, TECHNICAL DIGEST

ISBN: 978-1-4244-2377-4

Año de publicación: 2008

Páginas: 421-421

Congreso: IEEE International Electron Devices Meeting

Tipo: Aportación congreso