Una aportacion a la caracterizacion electrostatica de estructuras planares en sustratos multicapas utiles en la circuiteria integrada de microondas

Zusammenfassung

Esta memoria se dedica a la caracterizacion electrostatica de estructuras planares habituales en la circuiteria integrada de microondas. Las citadas estructuras estan constituidas por metalizaciones de dimensiones finitas o infinitas inmersas en un sustrato multicapa de caracteristicas electricas muy generales. En este trabajo, se calculan los parametros de propagacion de un amplio grupo de lineas de transmision en el marco de la aproximacion cuasi-tem. En particular, se analizan lineas correspondientes a las tecnologias microtira y guia de onda coplanar. Tambien se caracterizan electrostaticamente algunas estructuras con metalizaciones de tamaño finito tales como parches y discontinuidades en microtira. Son dos los metodos de analisis utilizados. En primer lugar (parte i), se hace uso del metodo del gradiente biconjugado generalizado y de la trasformada rapida de fourier (gbgm-fft). Se trata de un algoritmo iterativo de gran versatilidad, que ha permitido la caracterizacion de estructuras bi- y tri-dimensionales muy generales. El segundo metodo empleado (parte ii) es una version optimizada del clasico metodo de momentos en el dominio espectral (sda-mm). Esta ultima tecnica ha dado lugar a la elaboracion de un software para pcs rapido y preciso en el analisis de lineas multiconductoras encapsuladas tipo microtira y tipo guia de onda coplanar.