Methodology for the Simulation of the Variability of MOSFETs with Polycrystalline High-k Dielectrics Using CAFM Input Data

  1. Ruiz, A.
  2. Couso, C.
  3. Seoane, N.
  4. Porti, M.
  5. Garcia-Loureiro, A.J.
  6. Nafria, M.
Revista:
IEEE Access

ISSN: 2169-3536

Ano de publicación: 2021

Volume: 9

Páxinas: 90568-90576

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/ACCESS.2021.3090472 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor
Fonte de datos: Scopus