Impact of threshold voltage extraction methods on semiconductor device variability

  1. Espiñera, G.
  2. Nagy, D.
  3. García-Loureiro, A.
  4. Seoane, N.
  5. Indalecio, G.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Ano de publicación: 2019

Volume: 159

Páxinas: 165-170

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/J.SSE.2019.03.055 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus