3-D finite element monte carlo simulations of scaled Si SOI FinFET with different cross sections

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Revista:
IEEE Transactions on Nanotechnology

ISSN: 1536-125X

Año de publicación: 2015

Volumen: 14

Número: 1

Páginas: 93-100

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TNANO.2014.2367095 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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