3-D finite element monte carlo simulations of scaled Si SOI FinFET with different cross sections

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Zeitschrift:
IEEE Transactions on Nanotechnology

ISSN: 1536-125X

Datum der Publikation: 2015

Ausgabe: 14

Nummer: 1

Seiten: 93-100

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TNANO.2014.2367095 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor
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