Dopants and roughness induced resonances in thin Si nanowire transistors: A self-consistent NEGF-poisson study
- Martinez, A.
- Barker, R.
- Seoane, N.
- Brown, R.
- Asenov, A.
ISSN: 1742-6596, 1742-6588
Datum der Publikation: 2010
Ausgabe: 220
Nummer: 1
Art: Konferenz-Beitrag