Investigation of resistance in n-doped Si wires using NEGF formalism
- Martinez, A.
- Brown, A.
- Seoane, N.
- Asenov, A.
Konferenzberichte:
Proceedings of the 2009 Spanish Conference on Electron Devices, CDE'09
ISBN: 9781424428397
Datum der Publikation: 2009
Seiten: 416-419
Art: Konferenz-Beitrag