Current variability in Si nanowire MOSFETs due to random dopants in the source/drain regions: A fully 3-D NEGF simulation study

  1. Seoane, N.
  2. Martinez, A.
  3. Brown, A.R.
  4. Barker, J.R.
  5. Asenov, A.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Ano de publicación: 2009

Volume: 56

Número: 7

Páxinas: 1388-1395

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TED.2009.2021357 GOOGLE SCHOLAR
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