Benchmarking of scaled InGaAs implant-free NanoMOSFETs

  1. Kalna, K.
  2. Seoane, N.
  3. García-Loureiro, A.J.
  4. Thayne, I.G.
  5. Asenov, A.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Ano de publicación: 2008

Volume: 55

Número: 9

Páxinas: 2297-2306

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TED.2008.927658 GOOGLE SCHOLAR