Advanced simulation of statistical variability and reliability in nano CMOS transistors
- Asenov, A.
- Roy, S.
- Brown, R.A.
- Roy, G.
- Alexander, C.
- Riddet, C.
- Millar, C.
- Cheng, B.
- Martinez, A.
- Seoane, N.
- Reid, D.
- Bukhori, M.F.
- Wang, X.
- Kovac, U.
Actas:
Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM
ISSN: 0163-1918
ISBN: 9781424423781
Año de publicación: 2008
Tipo: Aportación congreso