Analysis of the impact of intrinsic parameter fluctuations in a 50 nm InP HEMT
- Seoane, N.
- García-Loureiro, A.
- Kalna, K.
- Asenov, A.
Konferenzberichte:
2007 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings
ISBN: 9781424408689
Datum der Publikation: 2007
Seiten: 92-95
Art: Konferenz-Beitrag