Effect of mismatch on the reliability of binary-programmable CNNs

  1. Laiho, M.
  2. Paasio, A.
  3. Brea, V.
Actas:
Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems

ISSN: 0271-4310

ISBN: 9780780393905

Ano de publicación: 2006

Páxinas: 3622-3625

Tipo: Achega congreso