Refractive-index profiling of planar gradient-index waveguides by phase-measuring microinterferometry

  1. Sochacka, M.
  2. Lago, E.L.
  3. Jaroszewicz, Z.
Revista:
Applied Optics

ISSN: 2155-3165,  1559-128X

Ano de publicación: 1994

Volume: 33

Número: 16

Páxinas: 3342-3347

Tipo: Artigo

DOI: 10.1364/AO.33.003342 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus