Refractive-index profiling of planar gradient-index waveguides by phase-measuring microinterferometry

  1. Sochacka, M.
  2. Lago, E.L.
  3. Jaroszewicz, Z.
Zeitschrift:
Applied Optics

ISSN: 2155-3165,  1559-128X

Datum der Publikation: 1994

Ausgabe: 33

Nummer: 16

Seiten: 3342-3347

Art: Artikel

DOI: 10.1364/AO.33.003342 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus