PROCEDIMIENTO PARA LA MEDIDA DE ABERRACIONES ÓPTICAS CON RANGO Y SENSIBILIDAD VARIABLES MEDIANTE DOS ELEMENTOS ÓPTICOS RECONFIGURABLES Y DISPOSITIVO PARA SU REALIZACIÓN.
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Inventores/as:
- Ares García, Jorge
- JUSTO ARINES PIFERRER
- Climent Jorda, Vicent
- Martínez Cuenca, Raul
- Lancis Sáez, Jesus
- Tajahuerce Romera, Enrique Ataulfo
- Duran Bosch, Vicente Andrés
- SALVADOR XURXO BARA VIÑAS
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Universidade de Santiago de Compostela
info
Universidade de Santiago de Compostela
Santiago de Compostela, España
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Universitat Jaume I
info
Universitat Jaume I
Castelló de la Plana, España
ES2365094A1 (22-09-2011)
ES2365094B2 (03-05-2012)
P201000291 (09-03-2010)
![Imagen de la patente](https://consultas2.oepm.es/imas//Resumen/000/00P/201/000/P201000291.jpg)
Resumo
Procedimiento para la medida de aberraciones ópticas con rango y sensibilidad variables mediante dos elementos ópticos reconfigurables y dispositivo para su realización. El frente de onda a analizar (A) incide sobre un subsistema de muestreo (1), que incluye un elemento óptico reconfigurable (11) que proporciona un patrón de irradiancia (P) de posición y geometría controlables, adecuado para medir la aberración. Un subsistema (2), que contiene otro elemento óptico reconfigurable (21), forma una imagen (I) del patrón (P) sobre un plano fijo (3). Sobre dicho plano se ubica un detector (4), conectado a un subsistema de análisis (5), que calcula la aberración (F) del frente (A). Un subsistema (6) controla las propiedades de los elementos reconfigurables (11) y (21). No es así necesario efectuar desplazamientos mecánicos del detector para situarlo en la posición variable donde se forma el patrón (P).