SISTEMA DE MAGNIFICACION VARIABLE PARA INSPECCION RADIOGRAFICA Y TOMOGRAFICA EN EL CAMPO DE LOS ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS

    Inventores/as:
  1. IGLESIAS LAGO, ALFREDO
  2. AMENEIRO RODRIGUEZ, RAMON
  3. VIDAL VILARIÑO, FELIX
  4. TOVAL BARRERAS, RAFAEL
  5. FAUSTINO GOMEZ RODRIGUEZ
  6. FRANCO FERREIRA, LUCIA
  1. Universidade de Santiago de Compostela
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    Universidade de Santiago de Compostela

    Santiago de Compostela, España

  2. Asociación de Investigación Metalúrxica do Noroeste
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    Asociación de Investigación Metalúrxica do Noroeste

    Porriño, España

Nacional
Publicación principal:

ES2341833A1 (28-06-2010)

Otras Publicaciones:

ES2341833B2 (07-02-2011)

Solicitudes:

P200803705 (26-12-2008)

Imagen de la patente

Resumo

Sistema de magnificación variable para inspección radiográfica y tomográfica (1) en aplicaciones industriales compuesto de una fuente de radiación ionizante (2), una matriz lineal de elementos detectores de centelleo (3), tarjetas electrónicas de adquisición de la señal del detector (4) y una tarjeta de control de adquisición (5), interfaz de volcado de los datos digitales a un ordenador (6), tarjeta capturadora de datos (18), dos bancadas verticales de movimiento lineal con dos soportes para la fuente y el detector (7, 8), bancada rotatoria con plato de soporte para los objetos a inspeccionar (9, 10), bancada lineal horizontal (11) colocada entre la fuente de radiación y el detector, módulo de control PID (12). La bancada horizontal (11) permite variar la distancia entre el objeto a inspeccionar y la fuente, el factor de magnificación en las imágenes adquiridas. Procedimiento de control de generación, adquisición, reconstrucción y visualización de datos asociado al sistema (1).

INVENES: P200803705