Study of discrete doping-induced variability in junctionless nanowire MOSFETs using dissipative quantum transport simulations

  1. Aldegunde, M.
  2. Martinez, A.
  3. Barker, J.R.
Revista:
IEEE Electron Device Letters

ISSN: 0741-3106

Ano de publicación: 2012

Volume: 33

Número: 2

Páxinas: 194-196

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/LED.2011.2177634 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus