Front-End Electronics of the Hades RPC Wall: Full Sector Test

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Büchersammlung:
2008 IEEE NUCLEAR SCIENCE SYMPOSIUM AND MEDICAL IMAGING CONFERENCE (2008 NSS/MIC), VOLS 1-9

ISSN: 1082-3654

ISBN: 978-1-4244-2714-7

Datum der Publikation: 2009

Seiten: 836-837

Kongress: IEEE Nuclear Science Symposium/Medical Imaging Conference

Art: Konferenz-Beitrag