A comprehensive Pelgrom-based on-current variability model for FinFET, NWFET and NSFET

  1. Fernandez, J.G.
  2. Seoane, N.
  3. Comesaña, E.
  4. Garcia-Loureiro, A.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Ano de publicación: 2023

Volume: 199

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/J.SSE.2022.108492 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor
Fonte de datos: Scopus