An event related potentials study of the effects of age, load and maintenance duration on working memory recognition

  1. Pinal, D.
  2. Zurrón, M.
  3. Díaz, F.
Revista:
PLoS ONE

ISSN: 1932-6203

Ano de publicación: 2015

Volume: 10

Número: 11

Tipo: Artigo

DOI: 10.1371/JOURNAL.PONE.0143117 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor