An effective-charge model for the trapping of impurities of impuuids in channels with nanostructured walls

  1. Ramallo, M.V.
Revista:
Nanoscale Research Letters

ISSN: 1931-7573,  1556-276X

Año de publicación: 2013

Volumen: 8

Número: 1

Páginas: 1-7

Tipo: Artículo

DOI: 10.1186/1556-276X-8-19 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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