Two-dimensional Monte Carlo simulation of DGSOI MOSFET misalignment

  1. Valin, R.
  2. Sampedro, C.
  3. Aldegunde, M.
  4. Garcia-Loureiro, A.
  5. Seoane, N.
  6. Godoy, A.
  7. Gamiz, F.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Ano de publicación: 2012

Volume: 59

Número: 6

Páxinas: 1621-1628

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TED.2012.2192738 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus