A detailed 3D-NEGF simulation study of tunnelling in n-Si nanowire MOSFETs
- Martinez, A.
- Seoane, N.
- Brown, A.R.
- Asenov, A.
Actas:
2010 Silicon Nanoelectronics Workshop, SNW 2010
ISBN: 9781424477272
Ano de publicación: 2010
Tipo: Achega congreso