Multi-Subband Monte Carlo simulation of bulk MOSFETs for the 32nm-node and beyond

  1. Sampedro, C.
  2. Gámiz, F.
  3. Godoy, A.
  4. Valín, R.
  5. García-Loureiro, A.
  6. Rodríguez, N.
Konferenzberichte:
2010 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference, ESSDERC 2010

ISBN: 9781424466610

Datum der Publikation: 2010

Seiten: 238-241

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/ESSDERC.2010.5618376 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus