Thermal effects in the flux-creep regime of YBa2Cu 3O7-δ thin film microbridges under high current densities in self field

  1. Ferro, G.
  2. Ruibal, M.
  3. Veira, J.A.
  4. Maza, J.
  5. Vidal, F.
Konferenzberichte:
Journal of Physics: Conference Series

ISSN: 1742-6596,  1742-6588

Datum der Publikation: 2008

Ausgabe: 97

Nummer: 1

Art: Artikel

DOI: 10.1088/1742-6596/97/1/012016 GOOGLE SCHOLAR
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