Atomistic mesh generation for the simulation of nanoscale metal-oxide-semiconductor field-effect transistors

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Revista:
Physical Review E - Statistical, Nonlinear, and Soft Matter Physics

ISSN: 1539-3755,  1550-2376

Ano de publicación: 2008

Volume: 77

Número: 5

Tipo: Artigo

DOI: 10.1103/PHYSREVE.77.056702 GOOGLE SCHOLAR
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