Impact of intrinsic parameter fluctuations on the performance of HEMTs studied with a 3D parallel drift-diffusion simulator

  1. Seoane, N.
  2. García-Loureiro, A.J.
  3. Kalna, K.
  4. Asenov, A.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Ano de publicación: 2007

Volume: 51

Número: 3

Páxinas: 481-488

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/J.SSE.2007.01.030 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus