Study of fluctuations in advanced MOSFETs using a 3D finite element parallel simulator
- Aldegunde, M.
- García-Loureiro, A.J.
- Kalna, K.
- Asenov, A.
ISSN: 1569-8025, 1572-8137
Ano de publicación: 2006
Volume: 5
Número: 4
Páxinas: 311-314
Tipo: Artigo
Revista:
Journal of Computational Electronics